曲面微区X射线荧光光谱仪

  • 发布时间:2026-01-12
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本产品为国际首创,解决了现有微区 XRF 设备对于曲面物体或者表面不平整的物体进行元素分析时不同点之间的差异较大,无法进行曲面三维元素分布高分辨成像的问题。本产品同时具备定点微区元素分析、平面高分辨元素成像和曲面高分辨元素成像三种功能,各项指标均达到或超过国际先进水平,一机顶三机,设备的通用性强、灵活性好、准确性高。本产品适用于考古、文物保护、安全、航空、采矿、材料学等领域的材质分析和信息提取等。自带可移动式操作台,整机尺寸。


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